admin 近年来发展的基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜(如图2所示)[2],是一种很好的替代检测设备.图2 基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜示意图 含有N
近年来发展的基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜(如图2所示)[2],是一种很好的替代检测设备.图2基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜示意图含有NV色心的金刚石探针通过AFM系统可以对样品进行逐点扫描,定量的获取样品表面的磁场大小信息 2016年,Y. Dovzhenko等人[3]通过NV色心磁学显微镜对磁性斯格明子表面的磁场进行了测试,重构出表面杂散磁场的分布,对斯格明子的类型具有指导意义(如图3所示)。在
源于苏黎世联邦理工学院自旋物理实验室的Qzabre公司,结合多年的NV色心磁测量技术与扫描成像技术研发出了基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜
近年来发展的基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜(如图2所示)[2],是一种很好的替代检测设备.图2基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜示意图含有NV
近年来发展的基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜(如图2所示)[2],是一种很好的替代检测设备.图2 基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜示意图 含有NV色心的金刚石探针通过AFM系统可以对样品进行逐点扫描,定量的获取样品表面的磁场大小信息。.
反铁磁材料器件拥有电学或光学激发翻转的性能,在新型磁存储上有着潜在的使用前景,本文通过使用基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜试验了电流脉冲注入CuMnAs微器件后弛豫过程中和弛豫后反铁磁畴织构产生的磁杂散场,试验表明大的电阻变化与写入电流脉冲引起的畴的纳米碎裂有关。通过对具有交叉几何结构的微器件中电流密度分布的成像,进一步证实了电流引起的畴结构的变化是不均匀的。在不同延迟时间获得的磁杂散场图像显示,碎片化的磁畴模式保持着对它们放松的原始状态的记忆。该试验揭示了导致金属反铁磁体电开关的微观机制,并为今后反铁磁自旋电子学领域
源于苏黎世联邦理工学院自旋物理实验室的Qzabre公司,结合多年的NV色心磁测量技术与扫描成像技术研发出了基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜
低温强磁场无液氦扫描探针显微镜系统-attoDry Lab低温强磁场原子力/磁力/扫描霍尔显微镜-attoAFM/attoMFM/attoSHPMFusionScope多功能显微镜new低温强磁场磁共振显微镜-attoCSFM无液氦低温STM/qPlusAFM系统-PanScan FreedomUHV PAN式.Quantum Design-磁性材料的显微观测有助于材料的微观结构及其形成机理的试验,随着科研的发展,磁性材料试验的尺度已经趋向于亚微米级甚纳米级。因此可见,超高分辨和超高灵敏度
反铁磁材料器件拥有电学或光学激发翻转的性能,在新型磁存储上有着潜在的使用前景,本文通过使用基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜试验了电流脉冲注入CuMnAs微器件后弛豫过程中和弛豫后反铁磁畴织构产生的磁杂散场,试验表明大的电阻变化与写入电流脉冲引起的畴的纳米碎裂有关。通过对具有交叉几何结构的微器件中电流密度分布的成像,进一步证实了电流引起的畴结构的变化是不均匀的。在不同延迟时间获得的磁杂散场图像显示,碎片化的磁畴模式保持着对它们放松的原始状态的记忆。该试验揭示了导致金属反铁磁体电开关的微观机制,并为今后反铁磁自旋电子学领域
近年来发展的基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜(如图2所示)[2],是一种很好的替代检测设备.图2 基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜示意图 含有NV色心的金刚石探针通过AFM系统可以对样品进行逐点扫描,定量的获取样品表面的磁场大小信息.
